M1|2.1 | Messsystemtauglichkeit: Basis der Datenerhebung
Über den Vortrag
Der Vortrag „M1|2.1 | Messsystemtauglichkeit: Basis der Datenerhebung“ von Helling und Storch ist Bestandteil des Kurses „Six Sigma Black Belt – Measure Phase“. Der Vortrag ist dabei in folgende Kapitel unterteilt:
- M1|2.1 Messsystemtauglichkeit: Basis der Datenerhebung
- Einführung Messsystemanalyse
- Mögliche Fehler eines Messsystems
- Überblick: Arten der Messsystemanalyse
- Verfahren 1: Grundgenauigkeit
- Verfahren 2 und 3: Serientauglichkeit
Quiz zum Vortrag
M1-III: Kennzeichnen Sie unterschiedliche Arten von Messfehlern:
- Bias (Offset)
- Wiederholbarkeit
- Reproduzierbarkeit
- Aussetzer
M1-III: Welche Aussagen zur Auflösung eines Messgerätes sind richtig?
- Die Auflösung eines Messgerätes ist das Vermögen, zwischen Messwerten reproduzierbare Unterschiede darzustellen.
- Die Auflösung eines Messgerätes sollte mindestens eine Dekade genauer sein als die Spezifikation oder Prozessvariation.
- Die Auflösung eines Messgerätes wird durch den Offset bestimmt: Je größer der Offset, desto geringer die Auflösung.
- Die Auflösung eines Messgerätes beeinflusst hauptsächlich die Repeatability einer Gage R&R Studie.
M1-III: Welche Aussagen zum Bias (Offset) eines Messgerätes sind richtig?
- Bias (Offset) beschreibt die mittlere Abweichung (Mittelwert) zwischen den Messwerten und dem wahren Wert.
- Linearität ist das Vermögen eines Messgerätes, über den gesamten Messbereich einen gleichbleibenden Bias (Offset) zu haben.
- Der Bias (Offset) gehört zu der Gruppe der nicht-systematischen Fehler.
- Bias (Offset) beschreibt die mittlere Streuung zwischen den Messwerten und dem wahren Wert.
M1-III: Aus welchen Anteilen setzt sich die Präzision eines Messgerätes zusammen?
- Wiederholgenauigkeit
- Reproduzierbarkeit
- Linearität
- Auflösung
M1-III: Werden Daten erhoben oder historische Daten verwendet, muss gleichfalls die Frage nach der Genauigkeit der Daten beantwortet werden. Bestimmen Sie die Hilfsmittel, welche in diesem Zusammenhang weiterhelfen können.
- Messsystemanalyse
- Prozessfähigkeitsanalyse
- Toleranzkettenanalyse
- Statistische Analyse
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Dozent des Vortrages M1|2.1 | Messsystemtauglichkeit: Basis der Datenerhebung
Helling und Storch
Helling und Storch ist Spezialist für Innovations- und Qualitätsmanagement. Das Unternehmen entwickelt Lehrgänge, Trainings und Vorträge für Akademien, Hochschulen und innerbetriebliche Bildungseinrichtungen. Ebenso gehören die Durchführung von Seminaren und Bildungsmaßnahmen, individuelles Methoden- und Praxis-Coaching sowie die Personenzertifizierung zum Angebot des Full-Service-Anbieters. Lehrgangs- und Coaching-Produkte von Helling und Storch sind vielfach ausgezeichnet und weltweit im Praxiseinsatz bei mittelständischen Unternehmen und namhaften Konzernen.Matthias Storch ist Geschäftsführer von Helling und Storch. Als einer der ersten Six Sigma Master Black Belts Deutschlands und Lean Master blickt er auf viele Jahre, hunderte Projekte und mehr als 10.000 Teilnehmer Erfahrung in Schulung und Anwendung der Six Sigma Methoden.
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